Описание
В этой книге рассматриваются теоретические основы и экспериментальные методы изучения электронных свойств легированных полупроводников. Авторитетные авторы, Шкловский и Эфрос, дают детальное объяснение механизма воздействия легирующих элементов на проводимость и электронные свойства полупроводников. Книга будет полезна студентам и специалистам в области физики полупроводников и электронной техники.
