Опис
У цій книзі розглядаються теоретичні основи та експериментальні методи вивчення електронних властивостей легованих напівпровідників. Авторитетні автори Шкловський і Ефрос дають докладне пояснення механізму впливу легуючих елементів на провідність і електронні властивості напівпровідників. Книга буде корисна студентам та фахівцям у галузі фізики напівпровідників та електронної інженерії.
